Kante entlang eines Oberflächen-Defekts
Aus experimentellen Messungen mit einem AFM ist bekannt, dass die Atome am Rand
von Oberflächendefekten eine erhöhte Korrugation zeigen (siehe hierzu auch
R. Bennewitz et al., Atomic-resolution images of radiation damage in KBr).
Es stellte sich die Frage, ob dieser Effekt in der Simulation nachvollzogen werden kann
und was die genauen Ursachen der erhöhten Korrugation sind.
Deshalb wurden aus der Oberfläche der Probe 6 Atome respektive 3 Moleküle (KBr) entfernt.
Über der Reihe derjenigen Atome zentriert, die die Kante des Defekts bilden, wurde mit
einer Kubus (111) - Spitze ein horizontaler Scan simuliert und in verschiedenen
Höhen wiederholt.
Bild 1: Scan mit einer Kubus (111) - Spitze über der Kante eines 6-atomigen Defekts
in der Probenoberfläche. Der weisse Pfeil stellt die Scan-Richtung dar. Es
wurden mehrere Scans in verschiedenen Höhen über der Probe durchgeführt, wobei
der einzelne Scan bei konstanter Höhe erfolgte.
(mehr hierzu im Kapitel Resultate der Simulation).
